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變溫霍爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀 型號(hào)：LK-HT-648
 

霍爾效應(yīng)的測(cè)量是開(kāi)展半導(dǎo)體研究的重要方法。本機(jī)利用計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)采集和處理在80K-400K溫度范圍內(nèi)對(duì)霍爾系數(shù)和電導(dǎo)率的聯(lián)合測(cè)量，進(jìn)行半導(dǎo)體導(dǎo)電機(jī)制及散射機(jī)制的研究，并可確定半導(dǎo)體的一些基本參數(shù)，如導(dǎo)電類(lèi)型、載流子濃度、遷移率、禁帶寬度以及雜質(zhì)電離能等。        

主要技術(shù)指標(biāo)
 
1．電磁鐵          0-300mT連續(xù)可調(diào)
 
2. 勵(lì)磁電源       0-5A連續(xù)可調(diào)  可自動(dòng)換向       穩(wěn)定性﹤±0.1%
 
3. 數(shù)字特斯拉計(jì)              0-2000mT       三位半數(shù)字顯示   分辨率0.001
 
4. 恒流源輸出       1mA       穩(wěn)定性±0.1%
 
5. 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)霍爾電壓測(cè)量最小分辨率1uV
 
6. 溫度變化測(cè)量范圍           80-400K
 
7. 整套儀器由電磁鐵系統(tǒng)、電源控制系統(tǒng)機(jī)箱、測(cè)量系統(tǒng)主機(jī)、恒溫器四部分組成
 
8. 探頭樣品采用單晶鍺片

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